THE BI-ANNUAL QUALITY CONFERENCE

被引：0
|
作者：
JACOBS, RM
机构：
来源：
MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1987年 / 27卷 / 01期
关键词：
D O I：
10.1016/0026-2714(87)90611-1
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
引用
收藏
页码：9 / 13
页数：5
相关论文
共 50 条
12345