CONTACTLESS MEASUREMENT OF SEMICONDUCTOR CONDUCTIVITY BY RADIO FREQUENCY-FREE-CARRIER POWER ABSORPTION

被引:50
作者
MILLER, GL [1 ]
ROBINSON, DAH [1 ]
WILEY, JD [1 ]
机构
[1] BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974
关键词
D O I
10.1063/1.1134756
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要
引用
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页数:7
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