MEASUREMENT OF STRAIN AND LATTICE-PARAMETER IN EPITAXIC LAYERS

被引：14
作者：
HART, M
LLOYD, KH
机构：
[1] HH WILLS PHYS LAB,ROY FT,BRISTOL,ENGLAND
[2] ROY RADAR ESTAB,MALVERN,WORCESTERSHIRE,ENGLAND
来源：
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY | 1975年 / 8卷 / FEB1期
关键词：
D O I：
10.1107/S0021889875009491
中图分类号：
O6 [化学];
学科分类号：
0703 ;
摘要：
引用
收藏
页码：42 / 44
页数：3
相关论文
共 4 条
[1]   VERY HIGH PRECISION X-RAY DIFFRACTION [J].
BAKER, TW ;
GEORGE, JD ;
BELLAMY, BA ;
CAUSER, R .
NATURE, 1966, 210 (5037) :720-&
[2]   PRECISION LATTICE CONSTANT DETERMINATION [J].
BOND, WL .
ACTA CRYSTALLOGRAPHICA, 1960, 13 (10) :814-818
[3]   HIGH PRECISION LATTICE PARAMETER MEASUREMENTS BY MULTIPLE BRAGG REFLEXION DIFFRACTOMETRY [J].
HART, M .
PROCEEDINGS OF THE ROYAL SOCIETY OF LONDON SERIES A-MATHEMATICAL AND PHYSICAL SCIENCES, 1969, 309 (1497) :281-&
[4]  
Zachariasen W. H., 1945, THEORY XRAY DIFFRACT
1