USING AN ARRAY PROCESSOR TO IMPLEMENT IMPROVED ALGORITHMS FOR SIMULATION OF HIGH-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPE IMAGES

被引：0

作者：

OKEEFE, MA ^{[1
]}

KILAAS, R ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV CALIF BERKELEY LAWRENCE BERKELEY LAB,NATL CTR ELECTRON MICROSCOPY,BERKELEY,CA 94720

来源：

JOURNAL OF METALS | 1988年 / 40卷 / 11期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TF [冶金工业];

学科分类号：

0806 ;

摘要：

引用

页码：103 / 104

页数：2