CONDENSER APERTURE MISALIGNMENT AND SOLUTE PROFILE ASYMMETRIES IN STEM X-RAY-MICROANALYSIS

被引:4
作者
CLIFF, G
机构
来源
JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1983年 / 130卷 / MAY期
关键词
D O I
10.1111/j.1365-2818.1983.tb04210.x
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
摘要
引用
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页码:RP3 / RP4
页数:2
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