SPECIAL FORM SCAN FOR SEM BASED ON MICROPROCESSOR AND ITS APPLICATION

被引：0

作者：

SASOV, AY ^{[1
]}

SOKOLOV, VN ^{[1
]}

RAU, EI ^{[1
]}

机构：

[1] MV LOMONOSOV STATE UNIV,FAC GEOL,MOSCOW 117234,USSR

来源：

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY | 1982年

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

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页码：17 / 27

页数：11

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共 4 条

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