OPTICAL THICKNESS CHANGES IN FRESHLY DEPOSITED LAYERS OF LEAD-TELLURIDE

被引：16

作者：

EVANS, CS ^{[1
]}

HUNNEMAN, R ^{[1
]}

SEELEY, JS ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV READING,DEPT ENGN & CYBERNETICS,WHITEKNIGHTS RG6 2AY,READING,ENGLAND

来源：

JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS | 1976年 / 9卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3727/9/2/022

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：321 / 328

页数：8

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[1] EVANS CD, IN PRESS