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PROBLEMS CONNECTED TO THE TESTING OF DIGITAL INTEGRATED-CIRCUITS
被引：0
作者：
FANTINI, F
MORANDI, C
SENIN, A
机构：
来源：
ELETTROTECNICA
|
1984年
/
71卷
/
05期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
引用
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页码：391 / 403
页数：13
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