MEASURING REFRACTIVE-INDEX AND THICKNESS OF THIN TRANSPARENT FILMS - METHOD

被引：3

作者：

DANEU, V ^{[1
]}

SANCHEZ, A ^{[1
]}

机构：

[1] INST ELETTROTEC,VIALE SCI,PALERMO,ITALY

来源：

APPLIED OPTICS | 1974年 / 13卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.13.000122

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：122 / 128

页数：7

共 7 条

[1]

BORN M, 1970, PRINCIPLES OPTICS

BOUSQUET, P ;

DELCOURT, Y .

JOURNAL DE PHYSIQUE ET LE RADIUM, 1957, 18 (07) :447-452

[3]

BOUSQUET P, 1957, ANN PHYS-PARIS, V2, P5

[4] *EIN NEUER UND FUNDAMENTALER VERSUCH ZUR TOTALREFLEXION [J].

GOOS, F ;

HANCHEN, H .

[5]

Rossi B., 1965, OPTICS

[6] LIGHT WAVES IN THIN FILMS AND INTEGRATED OPTICS [J].

TIEN, PK .

APPLIED OPTICS, 1971, 10 (11) :2395-&

TIEN, PK ;

ULRICH, R ;

MARTIN, RJ .