未找到相关数据
SENSITIVITY IMPROVEMENT BY STEP-BIASING IN HOLOGRAPHIC-INTERFEROMETRY - REPLY
被引：0
|作者：
HARIHARAN, P
[1
]
机构：
[1] CSIRO, NATL MEASUREMENT LAB, SYDNEY 2008, AUSTRALIA
关键词：
D O I：
10.1117/12.7971967
中图分类号：
O43 [光学];
学科分类号：
070207 ;
0803 ;
摘要：
引用
收藏
页码：279 / 279
页数：1
相关论文