TEMPERATURE-FLUCTUATIONS AND FLICKER NOISE IN P-N-JUNCTION DIODES

被引：6

作者：

MUELLER, O ^{[1
]}

机构：

[1] GE,TELECOMMUN PROD DEPT,LYNCHBURG,VA 24500

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES | 1974年 / ED21卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1109/T-ED.1974.17962

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

收藏

页码：539 / 540

页数：2

相关论文

共 4 条

[1] A HIGH CONSTANCY THERMOSTAT [J].

BALDINGER, E ;

NUESCH, E .

ZEITSCHRIFT FUR ANGEWANDTE MATHEMATIK UND PHYSIK, 1968, 19 (02) :334-+

[2]

MERTINS W, 1973, PROBLEME 1F RAUSCHEN

[3]

MUELLER O, 1970, IEEE T ELECTRON DEVI, VED17, P770

[4]

SZE SM, 1969, PHYSICS SEMICONDUCTO