HIGH-RESOLUTION UHV ELECTRON-MICROSCOPY OF SURFACE-STRUCTURES

被引:0
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作者
TAKAYANAGI, K [1 ]
机构
[1] TOKYO INST TECHNOL,MEGURO KU,TOKYO 152,JAPAN
来源
JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1988年 / 37卷 / 02期
关键词
D O I
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中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
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