ELECTRON-BEAM TESTING - METHODS AND APPLICATIONS

被引：56

作者：

FEUERBAUM, HP

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1002/sca.4950050103

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：14 / 24

页数：11

共 44 条

[1]

BALK LJ, 1976, SCANNING ELECTRON MI, V1, P615

[2]

BEHERA SK, 1972, 10 ANN P REL PHYS, P5

[3]

CRICHTON G, 1981, GROSSINTEGRATION, V77, P99

[4]

CRICHTON G, 1980, IEEE TEST C, P444

[5]

Crosthwait D. L., 1974, Scanning Electron Microscopy 1974, P935

[6] PULSED PHOTOMULTIPLIERS [J].

DEMARCO, F ;

PENCO, E .

[7]

DRIVER MC, 1969, SCANNING ELECTRON MI, P403

EVERHART, TE ;

WELLS, OC ;

MATTA, RK .

[9]

FAZEKAS P, 1982, COMMUNICATION

[10]

FAZEKAS P, 1981, ELECTRONICS, V14, P105