首页
学术期刊
论文检测
AIGC检测
热点
更多
数据
TEMPERATURE-DEPENDENCE OF THE CRITICAL VOLTAGES OF CUBIC METALS
被引:0
作者
:
TOMOKIYO, Y
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
KYUSHU UNIV,HVEM LAB,FUKUOKA 812,JAPAN
TOMOKIYO, Y
KOZASA, Y
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
KYUSHU UNIV,HVEM LAB,FUKUOKA 812,JAPAN
KOZASA, Y
MATSUMURA, S
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
KYUSHU UNIV,HVEM LAB,FUKUOKA 812,JAPAN
MATSUMURA, S
OKI, K
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
KYUSHU UNIV,HVEM LAB,FUKUOKA 812,JAPAN
OKI, K
EGUCHI, T
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
KYUSHU UNIV,HVEM LAB,FUKUOKA 812,JAPAN
EGUCHI, T
机构
:
[1]
KYUSHU UNIV,HVEM LAB,FUKUOKA 812,JAPAN
[2]
KYUSHU UNIV,GRAD SCH ENGN SCI,DEPT MAT SCI & TECHNOL,KASUGA,FUKUOKA 816,JAPAN
[3]
FUKUOKA UNIV,FAC SCI,DEPT APPL PHYS,FUKUOKA 81401,JAPAN
来源
:
JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY
|
1985年
/ 34卷
/ 03期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TH742 [显微镜];
学科分类号
:
摘要
:
引用
收藏
页码:228 / 228
页数:1
相关论文
未找到相关数据
未找到相关数据