EMPIRICAL MATRIX CORRECTIONS IN PRACTICAL X-RAY SPECTROSCOPY

被引：22

作者：

PLESCH, R ^{[1
]}

机构：

[1] SIEMENS AG,D-7500 KARLSRUHE 21,FED REP GER

来源：

X-RAY SPECTROMETRY | 1976年 / 5卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1002/xrs.1300050308

中图分类号：

O433 [光谱学];

学科分类号：

0703 ; 070302 ;

摘要：

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页码：142 / 148

页数：7

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共 8 条

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