PARAMETRIC EFFECTS ON THE VOID FRACTION MEASUREMENT BY CAPACITANCE TRANSDUCERS

被引:19
作者
CHUN, MH
SUNG, CK
机构
关键词
D O I
10.1016/0301-9322(86)90064-9
中图分类号
O3 [力学];
学科分类号
08 ; 0801 ;
摘要
引用
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页码:627 / 640
页数:14
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共 6 条
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