A GOODNESS-OF-FIT TEST OF EEG AMPLITUDE DISTRIBUTIONS

被引：0

作者：

HEYDENREICH, F ^{[1
]}

RUNGE, U ^{[1
]}

机构：

[1] ERNST MORITZ ARNDT UNIV,NERVENKLIN,DDR-2200 GREIFSWALD,GER DEM REP

来源：

ELECTROENCEPHALOGRAPHY AND CLINICAL NEUROPHYSIOLOGY | 1985年 / 60卷 / 02期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

R318 [生物医学工程];

学科分类号：

0831 ;

摘要：

引用

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