A MODEL FOR CALCULATING SECONDARY AND BACKSCATTERED ELECTRON YIELDS

被引：142

作者：

JOY, DC ^{[1
]}

机构：

[1] AT&T BELL LABS,MURRAY HILL,NJ 07974

来源：

JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1987年 / 147卷

关键词：

D O I：

10.1111/j.1365-2818.1987.tb02817.x

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：51 / 64

页数：14

共 42 条

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