ETCHING OF THICK ARALDITE-EMBEDDED SECTIONS FOR SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY

被引:11
作者
THURLEY, KW [1 ]
MOUEL, WC [1 ]
机构
[1] UNIV CAMBRIDGE,DEPT ANAT,CAMBRIDGE,ENGLAND
来源
JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1974年 / 101卷 / JUL期
关键词
D O I
10.1111/j.1365-2818.1974.tb03887.x
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
摘要
引用
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页码:215 / 218
页数:4
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