STRUCTURAL INVESTIGATIONS OF THE YB - SI(111) - 2X1, 5X1 AND 3X1 OVERLAYERS

被引：22
作者：
KOFOED, J
CHORKENDORFF, I
ONSGAARD, J
机构：
来源：
SOLID STATE COMMUNICATIONS | 1984年 / 52卷 / 03期
关键词：
D O I：
10.1016/0038-1098(84)90826-3
中图分类号：
O469 [凝聚态物理学];
学科分类号：
070205 ;
摘要：
引用
收藏
页码：283 / 286
页数：4
相关论文
共 13 条
  • [11] 1ST SPECTROSCOPIC INVESTIGATION OF THE YB/SI INTERFACE AT ROOM-TEMPERATURE
    ROSSI, G
    NOGAMI, J
    LINDAU, I
    BRAICOVICH, L
    ABBATI, I
    DELPENNINO, U
    NANNARONE, S
    [J]. JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY A-VACUUM SURFACES AND FILMS, 1983, 1 (02): : 781 - 784
  • [12] THOMPSON BD, 1982, THIN SOLID FILMS, V93, P265
  • [13] MECHANISMS FOR OXYGEN-ADSORPTION ON THE SI(110) SURFACE STUDIED BY AUGER-ELECTRON SPECTROSCOPY
    TOUGAARD, S
    MORGEN, P
    ONSGAARD, J
    [J]. SURFACE SCIENCE, 1981, 111 (03) : 545 - 554
12