CONSTRUCTION AND USES OF AN EFFICIENT BACKSCATTERED ELECTRON DETECTOR FOR SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY

被引：38

作者：

ROBINSON, VN ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV NEW S WALES,SCH TEXT TECHNOL,POB 1,KENSINGTON 2033,NEW S WALES,AUSTRALIA

来源：

JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1974年 / 7卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3735/7/8/019

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：650 / 652

页数：3

共 12 条

[1]

BALLARD DB, 1972, 1972 P SCANN EL MICR, P121

[2]

COLBY JW, 1969, ADV ELECTRONICS E S6

[3]

Evekhart T.E., 1959, J ELECT CONTROL, V7, P97, DOI 10.1080/00207215908937191

[4]

EVERHART TE, 1968, 1 P SCANN EL MICR S, P1

[5]

KIMOTO S, 1968, 1968 P SCANN EL MICR, P63

[6]

PAWLEY JB, 1972, 1972 P SCANN EL MICR, P153

[7]

PFEFFERKORN GE, 1972, 1972 P SCANN EL MICR, P147

ROBINSON, VN .

[9]

THORNTON PR, 1968, SCANNING ELECTRON MI, pCH5

[10]

VANVELD RD, 1971, 1971 P SCANN EL MICR, P17