RESIDUAL-STRESS IN DAMAGED SRTIO-3 SINGLE-CRYSTALS

被引：25

作者：

ASO, K ^{[1
]}

机构：

[1] SONY CORP,RES CTR,HODOGAYA KU,YOKOHAMA 240,JAPAN

来源：

关键词：

D O I：

10.1143/JJAP.15.1243

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：1243 / 1251

页数：9

共 12 条

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