SPECIAL ADVANTAGES OF CRYO-SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY

被引：0

作者：

NEI, T ^{[1
]}

FUJIKAWA, S ^{[1
]}

机构：

[1] HOKKAIDO UNIV,INST LOW TEMP SCI,SAPPORO,HOKKAIDO 060,JAPAN

来源：

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1976年 / 25卷 / 03期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：178 / 179

页数：2

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