DEPTH PROFILING OF METAL-OXIDES USING RAMAN-SPECTROSCOPY WITH ION-BOMBARDMENT

被引：15
作者：
HAMILTON, JC
MILLS, BE
BENNER, RE
机构：
来源：
APPLIED PHYSICS LETTERS | 1982年 / 40卷 / 06期
关键词：
D O I：
10.1063/1.93156
中图分类号：
O59 [应用物理学];
学科分类号：
摘要：
引用
收藏
页码：499 / 501
页数：3
相关论文
共 21 条
[21]   X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPIC STUDIES OF VALENCE STATES PRODUCED BY ION-SPUTTERING REDUCTION [J].
YIN, LI ;
GHOSE, S ;
ADLER, I .
APPLIED SPECTROSCOPY, 1972, 26 (03) :355-&
123