PROTON-INDUCED X-RAY-EMISSION SPECTROMETRY PIXE - BENEFITS TO ROUTINE ELEMENTAL ANALYSIS

被引:3
作者
GARTEN, RPH
MARTIN, B
TOLG, G
机构
[1] INST SPEKTROCHEM & ANGEW SPEKT,POSTFACH 778,D-4600 DORTMUND 1,FED REP GER
[2] MAX PLANCK INST NUCL PHYS,D-6900 HEIDELBERG 1,FED REP GER
来源
FRESENIUS ZEITSCHRIFT FUR ANALYTISCHE CHEMIE | 1984年 / 317卷 / 01期
关键词
D O I
10.1007/BF00468389
中图分类号
O65 [分析化学];
学科分类号
070302 ; 081704 ;
摘要
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