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X-RAY CHARACTERIZATION OF SINGLE-CRYSTAL FE FILMS ON GAAS GROWN BY MOLECULAR-BEAM EPITAXY
被引:25
作者:
QADRI, SB
[1
]
GOLDENBERG, M
[1
]
PRINZ, GA
[1
]
FERRARI, JM
[1
]
机构:
[1] USN,RES LAB,CODE 6635,WASHINGTON,DC 20375
来源:
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B
|
1985年
/
3卷
/
02期
关键词:
D O I:
10.1116/1.583123
中图分类号:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号:
0808 ;
0809 ;
摘要:
引用
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页码:718 / 721
页数:4
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