RADIATION DAMAGE IN SIC

被引：17

作者：

BABCOCK, R

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1965年 / NS12卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1965.4323922

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

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页码：43 / &

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