THE CHARACTERIZATION OF TRANSISTOR ELECTRICAL OVERSTRESS FAILURE PROBABILITY DENSITY-FUNCTIONS

被引：0
作者：
PIERCE, DG
MASON, RM
机构：
来源：
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1982年 / 29卷 / 06期
关键词：
D O I：
10.1109/TNS.1982.4336385
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
引用
收藏
页码：1452 / 1458
页数：7
相关论文
共 11 条
  • [11] AFWLTR7570
12