THE CHARACTERIZATION OF TRANSISTOR ELECTRICAL OVERSTRESS FAILURE PROBABILITY DENSITY-FUNCTIONS

被引：0

作者：

PIERCE, DG

MASON, RM

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1982年 / 29卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1982.4336385

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：1452 / 1458

页数：7

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共 11 条

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