DEVELOPMENT OF NON-DESTRUCTIVE TEST INSTRUMENTS BASED ON MICROPROCESSORS

被引：0

作者：

RODIN, AA

机构：

来源：

SOVIET JOURNAL OF NONDESTRUCTIVE TESTING-USSR | 1982年 / 18卷 / 03期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：242 / 248

页数：7

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