EDGE RATE INDUCED UPSET IN HIGH-SPEED CIRCUITS

被引：1
作者：
BARTHOLET, WG
STUBBS, GW
NESS, JD
机构：
来源：
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1987年 / 34卷 / 06期
关键词：
D O I：
10.1109/TNS.1987.4337494
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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页码：1438 / 1441
页数：4
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