NATURE OF PHOTOELECTRIC FATIGUE IN SEMICONDUCTORS

被引：1

作者：

PETROSJAN, S

SHIK, A

VUL, AY

SHEINKMAN, M

机构：

[1] AF IOFFE ENGN PHYS INST,LENINGRAD,USSR

[2] ACAD SCI UKSSR,INST SEMICOND,KIEV,UKSSR

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0038-1098(77)90238-1

中图分类号：

O469 [凝聚态物理学];

学科分类号：

070205 ;

摘要：

引用

页码：385 / 387

页数：3

共 18 条

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