MEASUREMENT OF THE DENSITY OF GAP STATES IN HYDROGENATED AMORPHOUS-SILICON BY SPACE-CHARGE SPECTROSCOPY

被引:409
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作者
LANG, DV
COHEN, JD
HARBISON, JP
机构
关键词
D O I
10.1103/PhysRevB.25.5285
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
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页码:5285 / 5320
页数:36
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