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NEW APPARATUS FOR MEASURING COMPLEX DIELECTRIC-CONSTANT OF A HIGHLY CONDUCTIVE MATERIAL
被引:37
|作者:
HAYAKAWA, R
[1
]
KANDA, H
[1
]
SAKAMOTO, M
[1
]
WADA, Y
[1
]
机构:
[1] UNIV TOKYO,FAC ENGN,DEPT APPL PHYS,BUNKYO KU,TOKYO,JAPAN
关键词:
D O I:
10.1143/JJAP.14.2039
中图分类号:
O59 [应用物理学];
学科分类号:
摘要:
引用
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页码:2039 / 2052
页数:14
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