DIRECT COMPARISON OF FINE-STRUCTURE ON TIL3 THRESHOLD BY DISAPPEARANCE POTENTIAL AND AUGER-ELECTRON AND SOFT-X-RAY APPEARANCE POTENTIAL SPECTROSCOPIES

被引：4
作者：
NISHIMORI, K
TOKUTAKA, H
KOHNO, M
ISHIHARA, N
机构：
来源：
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS | 1984年 / 23卷 / 06期
关键词：
D O I：
10.1143/JJAP.23.L366
中图分类号：
O59 [应用物理学];
学科分类号：
摘要：
引用
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页码：L366 / L368
页数：3
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