ENHANCEMENT OF ADHESION BY MEGAELECTRONVOLT ION-BOMBARDMENT

被引：8

作者：

TOMBRELLO, TA

机构：

来源：

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING | 1985年 / 69卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1016/0025-5416(85)90345-3

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：443 / 447

页数：5

共 14 条

[1]

BAGLIN JEE, 1984, MATER RES SOC S P, V25, P179

[2]

BANWELL T, 1983, MATERIALS RES SOC S, V14, P411

[3] MEASUREMENT OF ADHESION OF THIN FILMS [J].

BENJAMIN, P ;

WEAVER, C .

PROCEEDINGS OF THE ROYAL SOCIETY OF LONDON SERIES A-MATHEMATICAL AND PHYSICAL SCIENCES, 1960, 254 (1277) :163-176

[4]

CHOPRA KL, 1969, THIN FILM PHENOMENA, P314

[5]

GRIFFITH JE, 1982, NUCL INSTRUM METHODS, V198, P27

HEADRICK, RL ;

SEIBERLING, LE .

[7]

MENDENHALL MH, 1983, THESIS CALTECH

[8]

MITCHELL IV, 1984, MATER RES SOC S P, V25, P189

[9]

PAINE S, UNPUB LAYERED STRUCT

TOMBRELLO, TA .