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CHARACTERIZATION OF SILICON-CRYSTALS GROWN BY THE HEAT-EXCHANGER METHOD
被引:0
作者
:
HYLAND, S
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0
机构:
CALTECH,JET PROP LAB,PASADENA,CA 91103
HYLAND, S
DUMAS, KA
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机构:
CALTECH,JET PROP LAB,PASADENA,CA 91103
DUMAS, KA
SCHWUTTKE, GH
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CALTECH,JET PROP LAB,PASADENA,CA 91103
SCHWUTTKE, GH
ENGELBRECHT, JAA
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ENGELBRECHT, JAA
LEUNG, D
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机构:
CALTECH,JET PROP LAB,PASADENA,CA 91103
LEUNG, D
机构
:
[1]
CALTECH,JET PROP LAB,PASADENA,CA 91103
[2]
UNIV PORT ELIZABETH,PORT ELIZABETH 6000,SOUTH AFRICA
[3]
APPL SOLAR ENERGY CORP,CITY OF IND,CA 91700
来源
:
JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY
|
1983年
/ 130卷
/ 03期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
O646 [电化学、电解、磁化学];
学科分类号
:
081704 ;
摘要
:
引用
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页码:C86 / C86
页数:1
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