A CONTROLLED SPECIMEN PREPARATION TECHNIQUE FOR INTERFACE STUDIES WITH ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPY

被引：49
作者：
HENJERED, A
NORDEN, H
机构：
来源：
JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1983年 / 16卷 / 07期
关键词：
D O I：
10.1088/0022-3735/16/7/014
中图分类号：
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号：
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要：
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页码：617 / 619
页数：3
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共 5 条
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