APPLICATION OF A PIXE SCANNING ION MICROPROBE TO METEORITIC SAMPLES

被引：0

作者：

VANHOY, JR ^{[1
]}

MEEHAN, BT ^{[1
]}

CORRELL, FD ^{[1
]}

MOORE, DM ^{[1
]}

机构：

[1] USN ACAD,ANNAPOLIS,MD 21402

来源：

METEORITICS | 1995年 / 30卷 / 05期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

P3 [地球物理学]; P59 [地球化学];

学科分类号：

0708 ; 070902 ;

摘要：

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