COMBINED ION PROBE SPARK SOURCE ANALYSIS SYSTEM

被引：39
作者：
BANNER, AE [1 ]
STIMPSON, BP [1 ]
机构：
[1] AEI SCI APPARAT LTD,BARTON DOCK RD,URMSTON,MANCHESTER M31 2LD,ENGLAND
来源：
VACUUM | 1974年 / 24卷 / 10期
关键词：
D O I：
10.1016/0042-207X(74)90018-9
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
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页码：511 / 517
页数：7
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ALMEN, O ;
BRUCE, G .
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS, 1961, 11 (02) :257-278
[2]  
Andersen CA., 1970, INT J MASS SPECTROM, V3, P413, DOI [10.1016/0020-7381(70)80001-8, DOI 10.1016/0020-7381(70)80001-8]
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BINGHAM, RA ;
ELLIOTT, RM .
ANALYTICAL CHEMISTRY, 1971, 43 (01) :43-&
[5]  
BROWN R, 1973, INTERN LAB JAN, P32
[6]   SPECTRAL INTERFERENCES IN SECONDARY ION MASS-SPECTROMETRY [J].
COLBY, BN ;
EVANS, CA .
APPLIED SPECTROSCOPY, 1973, 27 (04) :274-279
[7]  
CRAIG RD, 1959, ADV MASS SPECTROM, P136
[8]  
DRUMMOND IW, 1968, THESIS U CAMBRIDGE
[9]  
DRUMOND I, 1969, P INT C ION SOURCES, P459
[10]  
ELLIOTT RM, 1961, INSTRUMENTS MEASUREM, V1, P271
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