COMPUTER-BASED HIGHLY SENSITIVE ELECTRON-WAVE INTERFEROMETRY

被引:47
作者
TAKEDA, M
RU, QS
机构
来源
APPLIED OPTICS | 1985年 / 24卷 / 18期
关键词
D O I
10.1364/AO.24.003068
中图分类号
O43 [光学];
学科分类号
070207 ; 0803 ;
摘要
引用
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页码:3068 / 3071
页数:4
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