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A MODEL FOR SUBSTATION RELIABILITY-ANALYSIS INCLUDING OVERLOAD EFFECTS
被引：3
作者：
BRANDAO, AF
机构：
[1] USP, Sao Paulo, Braz, USP, Sao Paulo, Braz
关键词：
D O I：
10.1016/0142-0615(87)90001-9
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
摘要：
14
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页码：194 / 205
页数：12
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