MODIFIED SPECIMEN STAGE FOR X-RAY ANALYSIS IN A TEM

被引:4
作者
ZALUZEC, NJ
FRASER, HL
机构
[1] UNIV ILLINOIS,DEPT MET & MIN ENGN,URBANA,IL 61801
[2] UNIV ILLINOIS,MAT RES LAB,URBANA,IL 61801
来源
JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1976年 / 9卷 / 12期
关键词
D O I
10.1088/0022-3735/9/12/009
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要
引用
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页数:2
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共 1 条
[1]  
GEISS RH, 1974, 965IBM01 IBM TECH RE