EIN BIPRISMA-INTERFEROMETER FUR ELEKTRONENWELLEN UND SEINE ANWENDUNG

被引:54
作者
KELLER, M
机构
来源
ZEITSCHRIFT FUR PHYSIK | 1961年 / 164卷 / 03期
关键词
D O I
10.1007/BF01378072
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
引用
收藏
页码:274 / &
相关论文
共 35 条
[1]   THE MEASUREMENT OF THE THICKNESS OF THIN CARBON FILMS [J].
AGAR, AW .
BRITISH JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 1957, 8 (01) :35-36
[2]  
Bethe H, 1928, ANN PHYS-BERLIN, V87, P55
[3]   EVAPORATED CARBON FILMS FOR USE IN ELECTRON MICROSCOPY [J].
BRADLEY, DE .
BRITISH JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 1954, 5 (FEB) :65-69
[4]  
BRICKA M, 1948, ANN RADIOELECTR, V3, P339
[5]  
BUEHL A, 1932, PHYS Z, V33, P812
[6]   INTERFERENZMIKROSKOPIE MIT ELEKTRONENWELLEN [J].
BUHL, R .
ZEITSCHRIFT FUR PHYSIK, 1959, 155 (04) :395-412
[7]  
BUHL R, 1958, 4 IKEM, P233
[8]  
DUEKER H, 1955, Z NATURFORSCH, V10A, P256
[9]  
FAGET J, 1957, CR HEBD ACAD SCI, V244, P2368
[10]  
FAGET J, 1957, CAH PHYS, V83, P285