A NEW STANDARDLESS QUANTITATIVE ELECTRON-PROBE MICROANALYSIS TECHNIQUE APPLIED TO III-V-COMPOUND SEMICONDUCTORS

被引：0

作者：

ZANGALIS, KP ^{[1
]}

CHRISTOU, A ^{[1
]}

机构：

[1] USN,RES LAB,WASHINGTON,DC 20375

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0040-6090(82)90462-X

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：287 / 294

页数：8

共 15 条

[1]

BROWN KM, 1972, 22ND P ASS COMP MATH, P111

COBURN, JW .

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY, 1976, 13 (05) :1037-1044

[3]

COVINGTON DW, 1979, I PHYS C SER, V45, P171

[4]

DUNCUMB P, 1968, NBS SPEC PUBL, V218, P135

[5]

Goldstein JI, 1977, SCANNING ELECTRON MI, V1, P315

[6]

GOLDSTEIN JI, 1979, ANAL ELECTRON MICROS, P83

[7]

HENRICH KFJ, 1968, ADV XRAY ANAL, V11, P40

[8]

HILDEBRAND FB, 1956, INTRO NUMERICAL ANAL, P225

[9]

LORIMER GW, 1977, I PHYS C SER, V36, P369

[10]

PHILIBERT K, 1963, 3RD P INT C XRAY OPT, P379