APPLICATION OF THE MOIRE TECHNIQUE TO ELECTRON HOLOGRAPHY

被引：0

作者：

NOMURA, S ^{[1
]}

TONOMURA, A ^{[1
]}

MATSUDA, T ^{[1
]}

机构：

[1] HITACHI LTD,CENT RES LAB,KOKUBUNJI,TOKYO 185,JAPAN

来源：

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1982年 / 31卷 / 03期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：311 / 311

页数：1

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