DE/DX ELECTRONICS FOR MARK II EXPERIMENT AT SLAC

被引：7

作者：

BERNSTEIN, D

BOYARSKI, A

COUPAL, D

FELDMAN, G

PAFFRATH, L

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1986年 / 33卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1986.4337055

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：86 / 89

页数：4

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共 2 条

[1]

BRIGGS D, 1985, IEEE T NUCL SCI, V32

[2]

1983, CALT681015 DOE RES D