ABSOLUTE CALIBRATION OF AN X-RAY PHOTOELECTRON SPECTROMETER

被引：38

作者：

EBEL, MF ^{[1
]}

机构：

[1] TECH UNIV WIEN, INST TECH PHYS, Vienna, AUSTRIA

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0368-2048(76)81006-7

中图分类号：

O433 [光谱学];

学科分类号：

0703 ; 070302 ;

摘要：

引用

页码：213 / 224

页数：12

共 7 条

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