共 3 条
ELECTRIC-FIELD STRENGTH AND PLASMA DELAY IN SILICON SURFACE-BARRIER DETECTOR
被引:0
作者:
KANNO, I
INBE, T
KANAZAWA, S
KIMURA, I
机构:
[1] Department of Nuclear Engineering, Kyoto University Yoshidahon-machi, Sakyo-ku, Kyoto
关键词:
D O I:
10.1016/0969-8043(95)00066-6
中图分类号:
O61 [无机化学];
学科分类号:
070301 ;
081704 ;
摘要:
[No abstract available]
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