DEVELOPMENT OF A NEW ELECTRON-ENERGY LOSS ANALYZER H-8020

被引:0
作者
KOBAYASHI, H [1 ]
OHASHI, T [1 ]
ISAKOZAWA, S [1 ]
机构
[1] HITACHI LTD,NAKA WORKS,KATSUTA 312,JAPAN
来源
JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1983年 / 32卷 / 03期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
摘要
引用
收藏
页码:250 / 250
页数:1
相关论文
empty
未找到相关数据